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產(chǎn)品中心光電探測(cè)系統(tǒng)顯微光電流
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微納光電成像測(cè)試系統(tǒng)是一種利用顯微成像手段，通過不同波長(zhǎng)激光進(jìn)行探測(cè)，分析表征光電子器件的短路電流分布，表面缺陷， 反射率等參數(shù)。并通過掃描獲得的圖像，分析各種參數(shù)的平面均勻性，為光電器件的結(jié)構(gòu)優(yōu)化提供參考。激光通由顯微鏡聚焦到樣品表面，激光激發(fā)樣品產(chǎn)生光電流，光電流信號(hào)通過探針引出至電流源表，再通過軟件讀出。
更新時(shí)間：2025-07-29
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