產(chǎn)品中心
PRODUCTS CNTER
當(dāng)前位置：首頁(yè)
產(chǎn)品中心半導(dǎo)體材料測(cè)試
產(chǎn)品分類(lèi)
深能級(jí)瞬態(tài)譜儀(DLTS)是檢測(cè)半導(dǎo)體材料和器件缺陷和雜質(zhì)的最好技術(shù)手段，它可以測(cè)定各種深能級(jí)相關(guān)參數(shù)，如深能級(jí)，俘獲界面，濃度分布等。
更新時(shí)間：2025-07-24
產(chǎn)品型號(hào)：
瀏覽量：789
對(duì)小體積樣品材料力學(xué)性質(zhì)進(jìn)行定量化測(cè)試的關(guān)鍵技術(shù)。
更新時(shí)間：2025-07-24產(chǎn)品型號(hào)：瀏覽量：842
拉曼光譜用來(lái)測(cè)試材料應(yīng)力，摻雜濃度和sheet& pattem等。從散射光的能量轉(zhuǎn)移，強(qiáng)度和偏振等方面可以獲取樣品豐富信息,如:結(jié)晶取向，組分，機(jī)械應(yīng)力，摻雜和溫度變化等。
更新時(shí)間：2025-07-24產(chǎn)品型號(hào)：瀏覽量：784
原子力顯微鏡使用非常小的探針，掃描樣品表面，在原子尺度探測(cè)樣品形貌。Semilab的AFM設(shè)備，可靈活配置和測(cè)試，具備優(yōu)異測(cè)試穩(wěn)定性和可靠性。
更新時(shí)間：2025-07-24產(chǎn)品型號(hào)：瀏覽量：828
iSR是一種微光斑測(cè)試技術(shù)，用于實(shí)時(shí)刻蝕和Halftone工藝中的厚度測(cè)試
更新時(shí)間：2025-07-24產(chǎn)品型號(hào)：瀏覽量：657
公司郵箱： qgao@buybm.com
服務(wù)熱線(xiàn)： 021-33897997
公司地址： 上海市浦東新區(qū)周康路26號(hào)E棟408
Copyright © 2025 上海波銘科學(xué)儀器有限公司 AlL Rights Reserved
備案號(hào)：滬ICP備19020138號(hào)-2
技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng) 管理登錄 sitemap.xml
相關(guān)文章