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●可測量稀薄溶液~濃厚溶液的ZETA電位和粒徑，并可進行分子量測量的檢測裝置。 ●適用于粒徑測量范圍（0.6nm~10um）,濃度范圍（0.00001%~40%）。
更新時間：2025-07-24
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瀏覽量：574
利用顯微微分光膜厚計OPTM series的高精度、微小光點，在線提供制作晶片圖案后的微小區(qū)域測量等膜厚信息。
更新時間：2025-07-24產(chǎn)品型號：瀏覽量：470
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更新時間：2025-07-24產(chǎn)品型號：瀏覽量：547
半導體晶圓缺陷檢測儀利用亮場和暗場顯微成像技術(shù)，通過自動化的圖像捕捉以及人工智能分析工具，為晶圓表面缺陷的檢測提供了快速且高效的解決方案。
更新時間：2025-07-24產(chǎn)品型號：瀏覽量：8050
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更新時間：2025-07-24產(chǎn)品型號：ELSZ-2000系列瀏覽量：6825
光電流測試是一種用于測量器件或材料的光電性能的測試方法，主要應(yīng)用于半導體器件、光電器件、太陽能電池等領(lǐng)域。
更新時間：2025-07-24產(chǎn)品型號：S-LBIC瀏覽量：2091公司郵箱： qgao@buybm.com
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OPTM 系列顯微分光膜厚儀 半導體晶圓缺陷檢測儀 ELSZ-2000系列ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統(tǒng) RU120便攜式拉曼光譜儀
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